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EN462-5雙絲像質(zhì)計(jì)的樣式和主要尺寸如圖1所示, 基本結(jié)構(gòu)包括:封裝板、13個(gè)絲對(duì)、識(shí)別標(biāo)志號(hào),各部分經(jīng)粘結(jié)構(gòu)成具有一定剛性的整體。金屬絲的材質(zhì)為鉑和鎢。
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日本JIMA分辨率測(cè)試卡用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。
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RT CT-05B X射線微米分辨率測(cè)試卡,微米技術(shù)實(shí)現(xiàn)了具有 16 種不同寬度（3 至 50μm）的高精度線對(duì)分辨率測(cè)試卡。 當(dāng)今，微焦點(diǎn)成為主流的 X 射線光束尺寸，而分辨率測(cè)試卡則是調(diào)整、設(shè)置、...
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德國(guó)IBA Type81型線對(duì)卡:德國(guó)IBA type81型線對(duì)卡型線對(duì)卡主要用于測(cè)試X射線機(jī)的高分辨率。
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十字嵌鉛刻度米尺(鉛尺) KR019:長(zhǎng)30cm，寬3cm，1mm刻度間距，嵌鉛刻度。1套2把鉛尺帶有機(jī)玻璃鉛尺盒。
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嵌鉛刻度米尺(鉛尺) KR018:嵌鉛刻度米尺長(zhǎng)30cm，寬3cm，1mm刻度間距，嵌鉛刻度。
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過(guò)濾板套裝(銅板、鋁板、鉛板)KR012-KR017:0.5mm厚銅板20cm x 20cm - KR012;1.5mm厚銅板20cm x 20cm - KR013
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VISI-X檢測(cè)模體用于檢測(cè) X 射線機(jī)光野與照射野的一致性。 該模體也用于檢測(cè)活動(dòng)濾線柵（Bucky）夾中心的定位。
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Primus I-L 檢測(cè)模體2007標(biāo)準(zhǔn)，用于數(shù)字透視（動(dòng)態(tài)平板）或常規(guī)透視（影像增強(qiáng)器電視）X射線系統(tǒng)的穩(wěn)定性檢測(cè)。
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Primus I-S 檢測(cè)模體用于數(shù)字透視（動(dòng)態(tài)平板）或常規(guī)透視（影像增強(qiáng)器電視）X射線系統(tǒng)的穩(wěn)定性檢測(cè)。
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數(shù)字X射線攝影和透視系統(tǒng)檢測(cè)模體 Primus,滿足《WS76-2020醫(yī)用常規(guī)X射線診斷設(shè)備質(zhì)量控制檢測(cè)規(guī)范》
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低對(duì)比度細(xì)節(jié)檢測(cè)模體TO16/TO20低對(duì)比度細(xì)節(jié)模體用于快速定量檢測(cè)影像成像質(zhì)量，可以用于X射線放射影像系統(tǒng)，CR系統(tǒng)(TO16);透視和血管造影系統(tǒng)(TO20)。
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低對(duì)比度-細(xì)節(jié)模體 CD DISC2.0包括分析軟件和便攜箱 序號(hào)：VD0203720
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德國(guó)IBA DIGI-13 CR/DR檢測(cè)模體,根據(jù)DIN6868-13標(biāo)準(zhǔn)，用于CR和DR成像系統(tǒng)的質(zhì)量檢測(cè)（包括均勻性、空間分辨率、低對(duì)比分辨率、可見光野和X射線野的校準(zhǔn)和偽影等）。
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CRDR數(shù)字成像綜合檢測(cè)設(shè)備用于所有類型的CR和DR成像系統(tǒng)質(zhì)量檢測(cè)?？梢酝瑫r(shí)檢測(cè)以下參數(shù)∶空間分辨率、低對(duì)比度分辨率、動(dòng)態(tài)范圍、光野和照射野一致性、空間距離準(zhǔn)確性。
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CRDR多功能圖像質(zhì)量檢測(cè)模體,多功能圖像質(zhì)量檢測(cè)模體，用于CR\\DR低密度分辨力、空間分辨力、射野與光野一致性以及均勻性檢測(cè)。
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